SRM 640f 矽(gui)粉(fen)標準(zhun)品(pin)
簡(jian)要描(miao)述(shu):SRM 640f 矽(gui)粉(fen)標準(zhun)品(pin)旨(zhi)在用(yong)作(zuo)校(xiao)準(zhun)衍(yan)射線(xian)位置和線(xian)形的標準(zhun),通過(guo)粉末衍(yan)射法(fa)確(que)定。
所(suo)屬(shu)分(fen)類:美國NIST標準(zhun)物(wu)質
更新時間:2024-12-10
廠商性質:經(jing)銷商
| 品(pin)牌 | NIST/美(mei)國 | 貨(huo)號 | SRM 640f |
|---|---|---|---|
| 規(gui)格 | 7.5 g | 供(gong)貨(huo)周(zhou)期 | 現貨(huo) |
| 主要(yao)用途(tu) | 旨(zhi)在用(yong)作(zuo)校(xiao)準(zhun)衍(yan)射線(xian)位置和線(xian)形的標準(zhun),通過(guo)粉末衍(yan)射法(fa)確(que)定 | 應(ying)用(yong)領(ling)域 | 生(sheng)物(wu)產業(ye) |
背景(jing):
從(cong)衍(yan)射數(shu)據的質量來(lai)評(ping)估X射線(xian)粉末(mo)衍射儀(yi)的性能(neng)。主要(yao)衍(yan)射數(shu)據為衍(yan)射峰(feng)的位置(布(bu)拉格角(jiao)2θ),衍射的強度(du)(衍射峰(feng)的積分(fen)強度(du)I和各(ge)測(ce)量點(dian)強度Y)和衍(yan)射峰(feng)的峰形(半峰(feng)寬H及(ji)分(fen)辨率)。壹(yi)組好的衍射數(shu)據能(neng)說明有關(guan)的測量部(bu)件(jian)和他(ta)們的連接(jie)是好的、合(he)格的。從(cong)衍(yan)射數(shu)據的質量來(lai)評(ping)估X射線(xian)粉末(mo)衍射儀(yi)的性能(neng)。主要(yao)衍(yan)射數(shu)據為衍(yan)射峰(feng)的位置(布(bu)拉格角(jiao)2θ),衍射的強度(du)(衍射峰(feng)的積分(fen)強度(du)I和各(ge)測(ce)量點(dian)強度Y)和衍(yan)射峰(feng)的峰形(半峰(feng)寬H及(ji)分(fen)辨率)。壹(yi)組好的衍射數(shu)據能(neng)說明有關(guan)的測量部(bu)件(jian)和他(ta)們的連接(jie)是好的、合(he)格的。
【NIST SRM 640f 矽(gui)粉(fen)標準(zhun)品(pin)】
主要(yao)用途(tu):美(mei)國NIST的 SRM 640f 矽(gui)粉(fen)標準(zhun)品(pin)旨(zhi)在用(yong)作(zuo)校(xiao)準(zhun)衍(yan)射線(xian)位置和線(xian)形的標準(zhun),通過(guo)粉末衍(yan)射法(fa)確(que)定。
包裝規(gui)格:壹(yi)瓶SRM 640f 矽(gui)粉(fen)標準(zhun)品(pin) 由大(da)約(yue) 7.5 克(ke)裝在氬(ya)氣(qi)下(xia)的矽(gui)粉(fen)組成。
材料(liao):SRM 640f 矽(gui)粉(fen)標準(zhun)品(pin)由超(chao)高(gao)純(chun)度(du)的本(ben)征矽(gui)晶(jing)錠(ding)制成,這(zhe)些晶(jing)錠(ding)經過(guo)粉碎(sui)和噴(pen)射研(yan)磨,中值(zhi)粒(li)徑(jing)為 4.1 μm。 然(ran)後(hou)將(jiang)所(suo)得(de)粉(fen)末在 1000 °C 的吸氣(qi)氬(ya)氣(qi)下(xia)退(tui)火(huo)兩(liang)小(xiao)時 [1] 並(bing)在氬(ya)氣(qi)下(xia)裝瓶(ping)。 X 射線(xian)粉末(mo)衍射數(shu)據的分(fen)析表(biao)明 SRM 材料(liao)在衍(yan)射特(te)性方面是(shi)均勻的。
認(ren)證(zheng)值(zhi):22.5 °C 溫(wen)度(du)下的認(ren)證(zheng)晶(jing)格參(can)數(shu)為
0.543 114 4 nm ± 0.000 008 nm
由該值(zhi)及其(qi)擴(kuo)展(zhan)不確(que)定度(du) (k = 2) 定(ding)義(yi)的區間主要(yao)由 B 類不確(que)定度(du)決定,該不(bu)確(que)定度(du)是(shi)從(cong)對(dui)測(ce)量數(shu)據及(ji)其(qi)分(fen)布(bu)的技(ji)術(shu)理解(jie)中估計出來(lai)的。 NIST 認(ren)證(zheng)值(zhi)是 NIST 對(dui)其(qi)準(zhun)確(que)性有(you)最(zui)高(gao)信(xin)心(xin)的值(zhi),因為所(suo)有已(yi)知(zhi)或(huo)可(ke)疑的偏差(cha)來源都已被(bei)調查(zha)或(huo)考(kao)慮在內(nei)。 認(ren)證(zheng)值(zhi)和不(bu)確(que)定度(du)是(shi)根(gen)據 ISO/JCGM 指南(nan) [2] 中描述(shu)的方法(fa)計算(suan)的。 被(bei)測量是(shi)晶格參(can)數(shu)。 計量溯(su)源性(xing)是(shi)長(chang)度的 SI 單(dan)位,以納(na)米(mi)表示(shi)。
信(xin)息(xi)值(zhi):認(ren)證(zheng)數(shu)據的分(fen)析包(bao)括對(dui)洛(luo)倫茲分(fen)布(bu)的全(quan)寬半最(zui)大(da)值(zhi) (FWHM) 進行細化,以說明樣本(ben)引起(qi)的展(zhan)寬。 FWHM 項隨(sui) 1/cos θ 變化的角度(du)依(yi)賴(lai)性(xing)被(bei)解(jie)釋為尺(chi)寸引起(qi)的展(zhan)寬。獲(huo)得(de)的值(zhi)與大(da)約(yue) 0.4 µm 的平均體積(ji)加權域尺(chi)寸壹(yi)致(zhi)。術(shu)語(yu)隨(sui) tan θ 變化,解(jie)釋為微(wei)應(ying)變(bian),細化為零。計(ji)算(suan)峰值(zhi)位置的信(xin)息(xi)值(zhi)在表(biao) 1 中給(gei)出。通過(guo)激光(guang)散(san)射確(que)定的典(dian)型粒(li)度分(fen)布(bu)在圖(tu) 1 中給(gei)出。信(xin)息(xi)值(zhi)被(bei)認(ren)為是(shi) SRM 用戶(hu)感興(xing)趣(qu)的值(zhi),但不(bu)夠(gou)充分(fen)可(ke)用(yong)信(xin)息(xi)來評(ping)估與該值(zhi)相關(guan)的不確(que)定性(xing)。信(xin)息(xi)值(zhi)不能(neng)用(yong)於(yu)建(jian)立(li)計(ji)量溯(su)源性(xing)。
認(ren)證(zheng)到期:NIST SRM 640f - 矽(gui)粉(fen) 標準(zhun)品(pin) 的認(ren)證(zheng)在規(gui)定的不確(que)定性(xing)範(fan)圍內(nei)無(wu)限(xian)期有效(xiao),前(qian)提是(shi)按照本(ben)證(zheng)書中的說明處理和存(cun)儲 SRM(參見(jian)“存(cun)儲說明")。不需(xu)要(yao)對(dui)此(ci) SRM 進行定期重新(xin)認(ren)證(zheng)。如(ru)果 SRM 損壞、汙(wu)染或(huo)以(yi)其(qi)他(ta)方式修改,則認(ren)證(zheng)無(wu)效(xiao)。
儲存(cun)說(shuo)明
SRM 640f 矽(gui)粉(fen)標準(zhun)品(pin)在氬(ya)氣(qi)下(xia)裝瓶(ping)以防止(zhi)受(shou)潮。 不(bu)使(shi)用(yong)時,將(jiang)未(wei)使(shi)用(yong)的粉末(mo)部(bu)分(fen)密(mi)封(feng)在原瓶中或(huo)以(yi)類似(si)或(huo)更好的防潮(chao)方式存(cun)放(fang)。
來源(yuan)
材料(liao)來源(yuan):矽(gui)來(lai)自 Siltronic AG(德(de)國慕尼(ni)黑)。 粉碎(sui)由 Hosokawa Micron Powder Systems (Summit, NJ) 進行。


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