SRM 1976c X射線(xian)粉(fen)末(mo)衍(yan)射(she)標準品簡(jian)介

SRM 1976c X射(she)線(xian)粉末(mo)衍(yan)射(she)標準品由(you)燒結氧(yang)化(hua)鋁(lv)圓(yuan)盤組成(cheng)，用(yong)於校準 X 射(she)線(xian)粉(fen)末(mo)衍(yan)射(she)設(she)備的(de)線位(wei)置和強(qiang)度(du)作(zuo)為(wei) 2θ 角(jiao)的(de)函數(shu)。 SRM 的(de)固體形(xing)式(shi)消除了由(you)樣(yang)品加(jia)載(zai)過(guo)程引入的(de)強(qiang)度(du)測(ce)量(liang)中(zhong)的(de)任何(he)可變性(xing)。 SRM 1976c 的(de)壹個單(dan)元(yuan)由(you)壹(yi)個(ge)直(zhi)徑(jing)約為(wei) 25.6 毫(hao)米(mi)、厚度為(wei) 2.2 毫(hao)米(mi)的(de)燒結氧(yang)化(hua)鋁(lv)圓(yuan)盤組成(cheng)。

SRM 1976c X射線粉末(mo)衍(yan)射(she)標準品材(cai)料(liao)說(shuo)明：

用(yong)於生(sheng)產(chan)此標準品的(de)制造(zao)工藝是(shi)為(wei)生(sheng)產(chan)電子(zi)元(yuan)件(jian)基(ji)板而開發(fa)的(de)。用(yong)作這(zhe)些基材(cai)前體(ti)的(de)氧化(hua)鋁(lv)粉(fen)末(mo)具(ju)有(you)高相純(chun)度（剛(gang)玉結構(gou)），具有片(pian)狀(zhuang)顆粒(li)形(xing)態。血(xue)小板的(de)直(zhi)徑(jing)通(tong)常為(wei) 5 μm 至 10 μm，厚度為(wei) 2 μm 至 3 μm。圓盤的(de)壓實過(guo)程導致(zhi)軸對(dui)稱紋(wen)理基面趨向於與(yu)圓(yuan)盤表(biao)面(mian)平(ping)行。紋(wen)理的(de)這(zhe)種(zhong)軸對(dui)稱特(te)性(xing)允許樣品以任何(he)關於表(biao)面(mian)法線(xian)的(de)方(fang)向安(an)裝。使(shi)用(yong)小百分(fen)比(bi)的(de)鈣(gai)長石玻(bo)璃(li)相對(dui)壓塊進行(xing)液相(xiang)燒結。未(wei)檢(jian)測(ce)到結晶(jing)雜質。液(ye)相燒結中(zhong)涉及(ji)的(de)玻璃(li)相有(you)效(xiao)地(di)防止(zhi)了顆(ke)粒(li)間的(de)接(jie)觸(chu)，並在從(cong)燒結溫度(du)冷卻碎片(pian)的(de)過(guo)程中松弛。這(zhe)導(dao)致(zhi)微應變(bian)的(de)最(zui)小(xiao)發(fa)展及(ji)其(qi)相(xiang)關的(de)線展寬(kuan)；盡(jin)管可以檢(jian)測(ce)到壹些微應變(bian)，因(yin)為(wei)具有 tanθ 依(yi)賴性(xing)的(de)高斯展(zhan)寬(kuan)。鑒於(yu)此(ci)，以及(ji)基(ji)本(ben)不(bu)存(cun)在微(wei)晶(jing)尺寸(cun)展寬(kuan)，SRM 1976c 可用(yong)於獲得儀器輪(lun)廓(kuo)函數(shu) (IPF) 的(de)近(jin)似值(zhi)。但(dan)是(shi)，不(bu)推薦使(shi)用(yong) SRM 1976c 進行(xing)定量(liang)微(wei)觀結構(gou)分析。包(bao)含(han)該 SRM 原料(liao)的(de)圓盤是(shi)在單(dan)壹的(de)專(zhuan)用(yong)生(sheng)產(chan)運(yun)行中(zhong)制造(zao)的(de)，以確(que)保微(wei)觀結構(gou)在晶(jing)粒(li)尺寸(cun)、形(xing)狀(zhuang)、微應變(bian)和紋(wen)理方(fang)面的(de)壹致(zhi)性(xing)。

認(ren)證值(zhi)：

NIST 認(ren)證值(zhi)是(shi) NIST 對(dui)其準確(que)性(xing)有(you)最(zui)高置信(xin)度(du)的(de)值(zhi)，因(yin)為(wei)所(suo)有已(yi)知(zhi)或(huo)可疑(yi)的(de)偏差來(lai)源(yuan)都已被(bei)調查(zha)或考(kao)慮在內(nei)。被測(ce)量(liang)是(shi)表(biao) 1 中(zhong)所(suo)示的(de)相對(dui)強(qiang)度(du)（無(wu)量(liang)綱(gang)比(bi)）的(de)認證值(zhi)，以及(ji)表(biao) 2 中(zhong)所(suo)示的(de)晶(jing)格(ge)參數(shu)。計(ji)量(liang)溯源(yuan)性(xing)是(shi)國際單(dan)位(wei)制 (SI) 單(dan)位(wei)，相對(dui)強(qiang)度(du)值(zhi)是(shi)維(wei)度(du)為(wei)壹，對(dui)於晶(jing)格(ge)參數(shu)，維(wei)度(du)是(shi)長(chang)度(du)（以納米(mi)表(biao)示）。認(ren)證值(zhi)和不(bu)確(que)定度(du)是(shi)根(gen)據(ju) ISO/JCGM 指南(nan) [1] 中(zhong)描述的(de)方(fang)法計(ji)算的(de)。

信(xin)息價值(zhi)：

SRM 1976c X射(she)線(xian)粉(fen)末(mo)衍(yan)射(she)標準品認(ren)證相關的(de)分析包(bao)括(kuo)計(ji)算表(biao) 3 中(zhong)所(suo)示的(de)衍射線(xian)位(wei)置。為(wei)了在各種(zhong)光(guang)學配(pei)置的(de)衍射設(she)備(bei)上使(shi)用(yong)

SRM 1976c，必須(xu)考(kao)慮偏振的(de)影響(xiang)。表(biao) 4 中(zhong)顯(xian)示的(de)值(zhi)包(bao)括(kuo)偏(pian)差

應用(yong)於認證值(zhi)以說(shuo)明這(zhe)種(zhong)影響(xiang)。表(biao) 3 和表(biao) 4 的(de)數(shu)據(ju)表(biao)示為(wei)信(xin)息值(zhi)。信(xin)息值(zhi)被(bei)認(ren)為(wei)是(shi) SRM 用(yong)戶(hu)感(gan)興趣的(de)值(zhi)，但(dan)沒有(you)足(zu)夠(gou)的(de)信(xin)息來(lai)評(ping)估與(yu)該值(zhi)相(xiang)關的(de)不確(que)定性(xing)。信(xin)息值(zhi)不(bu)能(neng)用(yong)於建(jian)立(li)計(ji)量(liang)溯源(yuan)性(xing)。

篇(pian)幅(fu)有(you)限(xian)，如(ru)需(xu)了解(jie)更多SRM 1976c X射線(xian)粉(fen)末(mo)衍(yan)射(she)標準品的(de)產(chan)品信(xin)息及(ji)報(bao)價，請(qing)聯(lian)系我(wo)們獲(huo)得(de)！