SRM 1740鋅(xin)鋁(lv)合金(jin)標(biao)準品(美(mei)國NIST)

SRM 1740鋅(xin)鋁(lv)合金(jin)標(biao)準品(美(mei)國NIST) 為圓盤形式(shi)，直(zhi)徑(jing)約(yue)為 50.8 毫(hao)米(mi)（2 英(ying)寸(cun)），厚 12.7 毫(hao)米(mi)（0.5 英(ying)寸(cun)），用於(yu)光發射(she)和(he) X 射(she)線(xian)熒光光譜分(fen)析(xi)方法(fa)。這(zhe)種材(cai)料是七種鋅(xin)基(ji)合金(jin)系列(lie)中的壹種，準備涵蓋鋅(xin)和(he)鍍鋅(xin)行(xing)業感興趣的壹系列鋁(lv)和鉛成分(fen)。該(gai)系(xi)列(lie)中的其(qi)他鋅(xin)合金(jin)是 SRM 1736、1737、1738、1739、1741 和 1742，均為盤形； SRM 2139 與(yu) SRM 1739 材(cai)料相同，但(dan)以芯(xin)片形式(shi)提供。

鋁(lv)和鉛的認證值在(zai)表(biao) 1 中給(gei)出(chu)。用於(yu)表(biao)征(zheng)該(gai) SRM 的分析(xi)方法(fa)是火焰(yan)原(yuan)子吸收光譜法(fa) (FAAS) 和電感耦合等(deng)離(li)子體發射(she)光譜法(fa) (ICP-OES)。所有值均以質量(liang)分(fen)數報(bao)告(gao) [1]。

認(ren)證值和不(bu)確(que)定性(xing)：

NIST 認證值是 NIST 對其(qi)準確性(xing)有最(zui)高置信度的真實(shi)值的當前最(zui)佳(jia)估計，因為所有(you)已知(zhi)或(huo)可疑(yi)的偏(pian)差(cha)來(lai)源(yuan)都(dou)已由(you) NIST 調(tiao)查或解(jie)釋。每(mei)個(ge)認(ren)證(zheng)值都是實(shi)驗室(shi)平均值。不確(que)定(ding)性(xing)在(zai)每(mei)個(ge)認(ren)證(zheng)值中，以 95% 置(zhi)信(xin)水(shui)平下(xia)的擴展不(bu)確(que)定(ding)度 U 表示，並(bing)根(gen)據 ISO 指(zhi)南(nan) [2] 中描述(shu)的方法(fa)計算。擴展的不確定(ding)性(xing)計算為 U = kuc，其(qi)中 uc 旨在(zai)在(zai)壹個標(biao)準偏(pian)差(cha)的水(shui)平上(shang)表示(shi)材(cai)料不均勻性(xing)以及(ji)實(shi)驗室(shi)間和(he)實(shi)驗室(shi)內不(bu)確(que)定(ding)性(xing)成分(fen)的綜合影(ying)響(xiang)。覆蓋(gai)因子，Al 的 k = 2.57 和 Pb 的 k = 2.37 由分別(bie)對應(ying)於(yu) 5 個(ge)和(he) 7 個(ge)自由度的學生 t 分(fen)布以及(ji)每(mei)種分析(xi)物(wu)的 95% 置信度確定。

使(shi)用說明(ming)

測試表(biao)面是與標(biao)記表面相對的壹側(ce)，其(qi)中包括 SRM 1740鋅(xin)鋁(lv)合金(jin)標(biao)準品(美(mei)國NIST)  編號。 NIST 根(gen)據使(shi)用電弧(hu)火(huo)花發射(she)光譜法(fa)進行的均勻性(xing)測試的設計和(he)結(jie)果，對裝置(zhi)的整個(ge)厚度進行了認證(zheng)。但(dan)是，警告(gao)用戶不(bu)要測量(liang)厚度小(xiao)於(yu) 2 毫(hao)米(mi)的圓盤。

使(shi)用 X 射(she)線(xian)熒光光譜法(fa)。每(mei)個(ge)封(feng)裝(zhuang)的磁(ci)盤都(dou)是通過(guo)使(shi)用銑(xi)床完成測試表(biao)面來(lai)準備(bei)的。用戶必(bi)須(xu)為每(mei)種分析(xi)技(ji)術確(que)定正(zheng)確的表面處(chu)理(li)程(cheng)序(xu)。

提醒用戶在(zai)重(zhong)修(xiu)磁(ci)盤或(huo)進行(xing)額外拋光時要小(xiao)心(xin)，因為這(zhe)些(xie)過(guo)程(cheng)可能(neng)會(hui)汙染表面。對於(yu)電(dian)弧(hu)火(huo)花發射(she)光譜法(fa)，建議單次(ci)測定基(ji)於(yu)在(zai)不(bu)同位置的多(duo)次(ci)“燒(shao)傷(shang)"的平均值。準備(bei)好(hao)的測試表(biao)面。為化學(xue)測試方法(fa)準備的樣品應(ying)包括使(shi)用銑(xi)床從整個(ge)表(biao)面上取出(chu)的大碎片。根(gen)據用於(yu)賦(fu)值的測試方法(fa)，建議使(shi)用 1.0 g 的最(zui)小(xiao)樣本(ben)量(liang)來(lai)獲得(de)代(dai)表本(ben)證(zheng)書(shu)中給(gei)出(chu)的值和不(bu)確(que)定性(xing)估計的結果。不使(shi)用時，應(ying)將材(cai)料存放在(zai)其(qi)原(yuan)始(shi)容(rong)器中，置於(yu)陰(yin)涼(liang)幹燥(zao)的地(di)方。