SRM 1738鋅鋁合(he)金(jin)標(biao)準(zhun)品(美(mei)國NIST)

SRM 1738鋅鋁合(he)金(jin)標(biao)準(zhun)品(美(mei)國NIST)  為(wei)圓盤(pan)形(xing)式(shi)，直(zhi)徑約(yue)為(wei) 50.8 毫(hao)米(mi)（2 英(ying)寸），厚 12.7 毫(hao)米(mi)（0.5 英(ying)寸），用於(yu)光發(fa)射和 X 射線熒光光譜(pu)分析(xi)方法(fa)。這種(zhong)材(cai)料是(shi)七(qi)種(zhong)鋅基(ji)合(he)金(jin)系(xi)列中(zhong)的(de)壹(yi)種(zhong)，準(zhun)備涵蓋鋅和鍍鋅行業(ye)感興趣的(de)壹(yi)系(xi)列鋁和鉛(qian)成(cheng)分。該系(xi)列中(zhong)的(de)其他鋅合(he)金(jin)是(shi) SRM 1736、1737、1739、1740、1741 和 1742，均呈(cheng)盤(pan)狀(zhuang)； SRM 2139 與 SRM 1739 材料相(xiang)同，但(dan)以芯片(pian)形(xing)式(shi)提(ti)供。

鋁和鉛(qian)的(de)認證值在表 1 中(zhong)給出(chu)。用於(yu)表征(zheng)該(gai) SRM 的(de)分(fen)析(xi)方法(fa)是火(huo)焰(yan)原(yuan)子吸(xi)收光譜(pu)法(fa) (FAAS) 和電(dian)感耦(ou)合(he)等(deng)離(li)子體(ti)發射光譜(pu)法(fa) (ICP-OES)。所(suo)有(you)值(zhi)均(jun)以質量(liang)分(fen)數(shu)報(bao)告 [1]。

認證值和不確(que)定性(xing)：

NIST 認證值是 NIST 對其準(zhun)確性(xing)有(you)最(zui)高置(zhi)信度的(de)真實值的(de)當(dang)前最(zui)佳(jia)估(gu)計(ji)，因(yin)為(wei) NIST 已調(tiao)查(zha)或(huo)解釋(shi)了所(suo)有(you)已(yi)知或(huo)可疑的(de)偏差來(lai)源(yuan)。每(mei)個認證值都(dou)是(shi)實驗(yan)室平均(jun)值。不確定性(xing)在每(mei)個認證值中(zhong)，以 95% 置信(xin)水平(ping)下(xia)的(de)擴(kuo)展(zhan)不確定度 U 表示(shi)，並根(gen)據(ju) ISO 指南 [2] 中(zhong)描(miao)述(shu)的(de)方法(fa)計算(suan)。擴(kuo)展(zhan)的(de)不(bu)確(que)定性(xing)計(ji)算(suan)為(wei) U = kuc，其中(zhong) uc 旨(zhi)在在壹(yi)個(ge)標(biao)準(zhun)偏差的(de)水(shui)平(ping)上(shang)表示(shi)材料不(bu)均勻(yun)性(xing)以及實驗(yan)室間和實驗(yan)室內不(bu)確定性(xing)成(cheng)分的(de)綜(zong)合(he)影響(xiang)。覆(fu)蓋因(yin)子，Al 的(de) k = 2.57 和 Pb 的(de) k = 2.37 由分別對應於(yu) 5 個(ge)和 7 個自(zi)由度的(de)學(xue)生(sheng) t 分布以及每(mei)種(zhong)分(fen)析物的(de) 95% 置(zhi)信(xin)度確(que)定。

認證到期(qi)：

SRM 1738鋅鋁合(he)金(jin)標(biao)準(zhun)品(美(mei)國NIST)  的(de)認證在規定的(de)測(ce)量(liang)不(bu)確定度範圍(wei)內(nei)無限(xian)期(qi)有(you)效，前提是(shi)按(an)照(zhao)本證(zheng)書中(zhong)給出(chu)的(de)說(shuo)明(ming)處(chu)理 SRM（參(can)見(jian)“使(shi)用說(shuo)明(ming)"）。如果(guo) SRM 被(bei)損(sun)壞、汙(wu)染或(huo)修改，則此(ci)認證無效

使(shi)用說(shuo)明(ming)

測試表面(mian)是(shi)與標記表面(mian)相(xiang)對的(de)壹(yi)側(ce)，其中(zhong)包括 SRM 編號(hao)。 NIST 根據(ju)使(shi)用電(dian)弧火(huo)花發(fa)射光譜(pu)法(fa)進行的(de)均(jun)勻(yun)性(xing)測(ce)試的(de)設計和結(jie)果(guo)，對裝置的(de)整(zheng)個(ge)厚度進行了認證。但是，警(jing)告用戶不(bu)要測量(liang)厚(hou)度小(xiao)於(yu) 2 毫(hao)米(mi)的(de)圓(yuan)盤(pan)。

使(shi)用 X 射線熒光光譜(pu)法(fa)。每(mei)個封裝的(de)磁盤(pan)都(dou)是(shi)通過(guo)使(shi)用銑床(chuang)完成(cheng)測試表面(mian)來(lai)準(zhun)備的(de)。用戶必(bi)須為(wei)每(mei)種(zhong)分(fen)析技(ji)術確定正(zheng)確(que)的(de)表面(mian)處(chu)理程序。

提醒(xing)用戶在重修磁盤(pan)或(huo)進行額外拋光時(shi)要小心，因(yin)為(wei)這些過(guo)程可能(neng)會(hui)汙(wu)染表面(mian)。對於電(dian)弧火(huo)花發(fa)射光譜(pu)法(fa)，建(jian)議(yi)單次測定基(ji)於(yu)在不同(tong)位(wei)置的(de)多次“燒傷"的(de)平(ping)均(jun)值。

準(zhun)備好的(de)測(ce)試表面(mian)。為(wei)化(hua)學(xue)測試方法(fa)準(zhun)備的(de)樣品應包括使(shi)用銑床(chuang)從(cong)整個(ge)表面(mian)上(shang)取出(chu)的(de)大(da)碎(sui)片(pian)。根據(ju)用於(yu)賦(fu)值的(de)測(ce)試方法(fa)，建(jian)議(yi)使(shi)用 1.0 g 的(de)最(zui)小(xiao)樣本量(liang)來(lai)獲(huo)得(de)代(dai)表本證(zheng)書中(zhong)給出(chu)的(de)值(zhi)和不確(que)定性(xing)估(gu)計的(de)結(jie)果(guo)。不(bu)使(shi)用時(shi)，應(ying)將材料存放(fang)在其原(yuan)始(shi)容器(qi)中(zhong)，置(zhi)於(yu)陰涼幹(gan)燥(zao)的(de)地方。